本文標(biāo)題："樣品的大小元素在類似電子微探針工作的分析"

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樣品的大小元素在類似電子微探針工作的分析

    冰樣制備 與透射式電子顯微鏡相比，掃描電子顯微鏡試樣
制備比較簡便。首先要考慮的是試樣必須接地，以防表而電荷積
累、試樣通常用導(dǎo)電含銀糊狀沾合劑沽于支撐上。樣品上二非導(dǎo)電
部分須敷上一層很薄的導(dǎo)電膜，也可以是碳、金或其它蒸發(fā)到全部
表層的金屬.這種導(dǎo)電層應(yīng)薄到兒乎透明的程度，以免干擾圖像
形成。這種樣品的制備并不需要做得很精巧，這也可算是此種方
法的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)。
     日前，掃描電子顯微鏡與透射式電子顯微鏡作比較，在
電子衍射能力上受到限制。元素分析只在類似電子微探針的工作
方式下才有可能，但是，在靈敏度方面要損失一些。為了保持真空
狀態(tài)，樣品的大小就受到了限制，并且必須通過遙控進(jìn)行樣品的人
工操作。此外，潮濕樣品在去水時(shí)，將會污染真空系統(tǒng)。

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