本文標題："萬能工具顯微鏡頂尖測量盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量"
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萬能工具顯微鏡頂尖測量盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量
什么叫阿貝原則?舉例說明之。
阿貝原則是:“測件與標準件必須配置在測量方向的同一直
線上，即測量的標準件應安置在被測長度的延長線上。這是計
量技術的一條基本原則。測量裝置由于量具量儀制造或裝配不
良(導軌不直、不平行、滾珠不圓等)而產生軸線傾斜。如果
量具量儀的設計是符合阿貝原則的，那么傾斜引起的測量誤差
以二次方誤差出現，一般可以忽略不計。如果量具量儀設計不
符合阿貝原則，則由傾斜而引起的測量誤差是以一次方形式出
現，誤差較大，不能忽略。因此，在量具量儀設計時應盡量考
慮遵守“阿貝原則”，否則必須對其所產生的誤差(一般為系統
誤差)進行分析或采用其他措施補償這些誤差。
符合阿貝原則的量具量儀有:深度游標卡尺、萬能測長機、
阿貝比長儀等。不符合的有:游標卡尺、游標高度尺、萬?能?工?具?顯?微?鏡等。
游標卡尺不符合阿貝原則，因此在測量時應將被測零件盡可能靠近刻尺處;
萬能工具顯微鏡縱向平面不符合阿貝原則，因此在頂尖測量時，
應盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量(如測螺紋的螺距等)。
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